高精度CNC三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) STRATO-Apex

• 更新日期：2024-10-26

1 ? m 以下的高精度測(cè)量
內(nèi)部發(fā)熱Z小化：
·控制器被放置在主機(jī)外部，從而排除主機(jī)發(fā)熱產(chǎn)生的影響。
·包括外置控制器全部采用緊湊設(shè)計(jì)，占地面積小。
超高精度玻璃光柵尺：
·每個(gè)STRATO-Apex 的軸上所安裝的超高精度水晶玻璃光柵尺幾乎無(wú)熱膨脹(線性膨脹系數(shù)0.01 × 10-6/ ?C)并結(jié)合分辨率為2/100 ?m 的高性能反射線性編碼器，創(chuàng)造了超高精度測(cè)量裝置。

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       蘇州勒豐精密儀器有限公司（德日維修部）專業(yè)從事日本三豐，德國(guó)馬爾等品牌，以“質(zhì)量*”為宗旨，向范圍的廣大市場(chǎng)提供千分尺，卡尺等量具；三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，形狀測(cè)量系統(tǒng)，視像測(cè)量系統(tǒng)，光學(xué)儀器等系統(tǒng)精密測(cè)量?jī)x以及專業(yè)維修服務(wù)中心。公司技術(shù)力量雄厚，多名工程師都是來(lái)自世界*的量具生產(chǎn)企業(yè)，配件采用日本*，計(jì)量試驗(yàn)室儀器都是進(jìn)口測(cè)量?jī)x器，為客戶解決維修后精度不良的后顧之憂，品質(zhì)服務(wù)由計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)部門(mén)支持并出具相關(guān)維修產(chǎn)品的檢測(cè)報(bào)告，并與日本三豐“Mitutoyo”總代理建立有長(zhǎng)期穩(wěn)定的合作關(guān)系。是大陸地區(qū)*的量具量?jī)x銷(xiāo)售及維修服務(wù)商之一。

1 µ m 以下的高精度測(cè)量

內(nèi)部發(fā)熱zui小化：

·控制器被放置在主機(jī)外部，從而排除主機(jī)發(fā)熱產(chǎn)生的影響。

·包括外置控制器全部采用緊湊設(shè)計(jì)，占地面積小。

超高精度玻璃光柵尺：

·每個(gè)STRATO-Apex 的軸上所安裝的超高精度水晶玻璃光柵尺幾乎無(wú)熱膨脹（線性膨脹系數(shù)0.01 × 10-6/ ?C）并結(jié)合分辨率為2/100 µm 的高性能反射線性編碼器，創(chuàng)造了超高精度測(cè)量裝置。

玻璃光柵尺采用*的保護(hù)方法使安裝面和玻璃光柵尺線性膨脹系數(shù)之間的不同導(dǎo)致的滯后誤差zui小化。

防振臺(tái)裝置為標(biāo)準(zhǔn)附件：

· 安裝主機(jī)的地板的振動(dòng)將導(dǎo)致測(cè)量值的變化。STRATO-Apex 系列裝備有使用自動(dòng)調(diào)水平氣墊的防振臺(tái)裝置。防振臺(tái)裝置不僅可以避免到達(dá)主機(jī)的地板振動(dòng)，還有用傳感器檢測(cè)由于個(gè)別軸的移動(dòng)和工件放置引起的負(fù)載變化，并能迅速將主裝置恢復(fù)至水平方向。

提供移動(dòng)的zui高速度和精度 — 集成關(guān)鍵測(cè)量技術(shù)

STRA TO-Apex 776   STRATO-Apex 7106   STRATO-Apex 9106  STRATO-Apex 9166

zui大允許誤差

ISO 10360-2: 2001（JIS B 7440-2: 2003）

測(cè)頭使用：TP200

zui大允許誤差：MPEE =0.9+2.5 L/1000

測(cè)頭使用：TP200

zui大允許誤差：

MPE E =1.4+2.5 L/1000 （用于776/7106 型）

MPE E =1.5+2.5 L/1000 （用于9106/9166 型）

探測(cè)誤差

ISO 10360-2: 2001（JIS B 7440-2: 2003）

測(cè)頭使用SP25M

zui大允許探測(cè)誤差 MPEp =0.9

測(cè)頭使用MPP-310Q

zui大允許探測(cè)誤差MPEp =0.9

測(cè)頭使用TP200

zui大允許探測(cè)誤差MPEp =1.8

掃描精度性能參數(shù)（高密度掃描測(cè)量使用預(yù)設(shè)路徑）

ISO 10360-4: 2001（JIS B 7440-4: 2003）

測(cè)頭使用：SP25M

zui大掃描測(cè)頭允許誤差（zui大允許掃描試驗(yàn)時(shí)間）：[秒] MPETHP=1.8 （MPT tHP =45）

測(cè)頭使用MPP-310Q

zui大掃描測(cè)頭允許誤差（zui大允許掃描試驗(yàn)時(shí)間）[秒] ：MPETHP=2.0 （MPT tHP =70）